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《电子工业专用设备》 2011年05期
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存储芯片测试的研究

谭永良  吴文仕  
【摘要】:集成电路的测试最关健的两个方面是快速,准确,但存储器由于容量较大,测试时需对其所有存储单元进行扫描测试,因此消耗时间较多,在现代社会中,随着对存储芯片需求量的增大,测试时间问题也就慢慢地凸显出来,本文就如何优化存储芯片的测试时间进行讨论。

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【参考文献】
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