光电测试系统的性能分析
【摘要】:文章从理论上分析、计算由近红外光电传感器、前置放大电路和采集卡组成的光电测试系统的精度指标。结果表明 ,系统的绝对误差为 6 6 8mV ;温度和噪声等引起的相对误差为 3 2 6mV ;此外 ,采集卡的A/D转换宽度也影响着整个系统的精度。文章分析的方法为类似测试系统的性能分析提供了一般方法。
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