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高功率半导体激光器测试系统

沈牧  任永学  王晓燕  程义涛  
【摘要】:利用SGI40-125AAA型程控直流电源、PCI-GPIB卡、电压表、功率计表以及光谱仪等建立高功率半导体激光器测试系统,并在LabVIEW环境下开发了测试软件,通过软件控制直流电源、功率计表等仪器的触发输出、触发输入实现测试设备的同步工作,在保证测试准确性的同时,实现了快速(每个测试点的工作时间约300 ms)的扫描测试,在测试速度上比多个仪器单独测试有了明显提高。可以实现千瓦级连续工作半导体激光器的光功率P、电压V、电光转换效率η、阈值电流、光谱等参数的扫描测试。建立的测试系统准确度高,扫描速度快,测试软件界面操作方便,显示结果直观、全面。

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