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SOC芯片设计与测试

谈颖莉  戎蒙恬  
【摘要】:SOC已经成为集成电路设计的主流。SOC测试变得越来越复杂,在设计时必须考虑DFT和DFM。本文以一SOC单芯片系统为例,在其设计、测试和可制造性等方面进行研究,并详细介绍了SOC测试解决方案及设计考虑。

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1 谈颖莉,戎蒙恬;SOC芯片设计与测试[J];半导体技术;2004年06期
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