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《半导体技术》 2003年09期
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数字VLSI电路测试技术-BIST方案

高平  成立  王振宇  祝俊  史宜巧  
【摘要】:分析了数字VLSI电路的传统测试手段及其存在问题,通过对比的方法,讨论了内建自测试(BIST)技术及其优点,简介了多芯片组件(MCM)内建自测试的目标、设计和测试方案。

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【引证文献】
中国期刊全文数据库 前3条
1 倪军;杨建宁;;基于边界扫描技术的数字系统测试研究[J];电子技术应用;2006年09期
2 成立,王振宇,高平,祝俊;VLSI电路可测性设计技术及其应用综述[J];半导体技术;2004年05期
3 成立,高平,王振宇,史宜巧;BiCMOS技术在通信领域的研究与进展[J];电讯技术;2004年02期
中国硕士学位论文全文数据库 前2条
1 冯蕊;LC82380电路的测试技术研究[D];哈尔滨理工大学;2006年
2 姜鹏;基于NoC体系结构的测试研究[D];西北工业大学;2005年
【参考文献】
中国期刊全文数据库 前1条
1 熊险峰,张红南,杨献,陈为,司孝平;系统芯片的测试技术[J];半导体技术;2003年02期
【共引文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 金西,丁文祥,贠超;RISC结构的IP核验证与测试[J];半导体技术;2003年11期
2 王振宇,成立,高平,史宜巧,祝俊;先进的芯片尺寸封装(CSP)技术及其发展前景[J];半导体技术;2003年12期
3 成立,王振宇,高平;DRAM芯片的最新研制进展与发展趋势[J];半导体技术;2004年04期
4 成立,王振宇,高平,祝俊;VLSI电路可测性设计技术及其应用综述[J];半导体技术;2004年05期
5 刘新福,孙以材,刘东升;四探针技术测量薄层电阻的原理及应用[J];半导体技术;2004年07期
6 李加元;成立;王振宇;李华乐;贺星;;系统芯片设计中的可复用IP技术[J];半导体技术;2006年01期
7 李华乐;成立;王振宇;李加元;贺星;瞿烨;;新型半导体纳米材料的主要制备技术[J];半导体技术;2006年03期
8 王振宇;成立;祝俊;李岚;;电子束曝光技术及其应用综述[J];半导体技术;2006年06期
9 成立;李加元;李岚;李华乐;王振宇;;晶圆制备工艺用清洗洁净及环保新技术[J];半导体技术;2006年10期
10 王振宇,成立,高平,史宜巧;BiCMOS器件应用前景及其发展趋势[J];电讯技术;2003年04期
中国重要会议论文全文数据库 前1条
1 谢莉莉;汪鹏;;四探针法在半导体测试技术中的应用[A];第二十届中国(天津)'2006IT、网络、信息技术、电子、仪器仪表创新学术会议论文集[C];2006年
中国博士学位论文全文数据库 前2条
1 刘新福;结合图像分析的微区薄层电阻四探针测试技术研究[D];河北工业大学;2003年
2 张西慧;螯合剂在微电子工艺中减少硅表面重金属污染的应用研究[D];河北工业大学;2007年
中国硕士学位论文全文数据库 前10条
1 王静;结合图像分析的四探针测试系统研究[D];河北工业大学;2003年
2 韩云鹏;集成电路衬底制造过程中应力问题的研究[D];河北工业大学;2003年
3 刘立浩;GaAs MESFET击穿特性研究[D];河北工业大学;2003年
4 刘智;基于高层次综合的MCU IP核的设计研究[D];西北工业大学;2003年
5 熊险峰;高速高精度十二位D/A转换器的研究与设计[D];湖南大学;2003年
6 张艳辉;图像识别在微区四探针测试技术中的应用[D];河北工业大学;2004年
7 毛剑波;IC制造计算机辅助管理系统设计研究[D];合肥工业大学;2004年
8 陈宇;集成电路封装用新型Al-1%Si键合线的研制[D];兰州理工大学;2004年
9 杨承;毛细管电泳芯片的设计与加工技术研究[D];华中科技大学;2004年
10 陈华;单晶铜丝在半导体器件封装中的打线键合性能研究[D];兰州理工大学;2005年
【同被引文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 刘清,徐智穹;系统集成芯片边界扫描测试技术研究[J];武汉理工大学学报(交通科学与工程版);2004年03期
2 王隆刚,李桂祥,杨江平;基于边界扫描技术的VLSI芯片互连电路测试研究[J];计算机测量与控制;2003年04期
3 成立,李彦旭,李春明,刘斌,汪洋;开发LSI DAC新品的技术综述[J];半导体技术;2001年06期
4 李彦旭,成立,董素玲;几种用于高速数字通信系统中的锁存比较器[J];半导体技术;2002年04期
5 李彦旭,成立,巴大志;低电压、低功耗高速A/D转换器及其应用前景[J];半导体技术;2002年07期
6 成立,李彦旭,董素玲,汪洋,唐平;BiCMOS三态输出门电路的设计、制备及应用[J];半导体技术;2002年08期
7 熊险峰,张红南,杨献,陈为,司孝平;系统芯片的测试技术[J];半导体技术;2003年02期
8 董素玲,成立,王振宇,高平;用0.8μm工艺技术设计的65-kb BiCMOS SRAM[J];半导体技术;2003年06期
9 王宁,李桂祥,杨江平;边界扫描测试结构完备性诊断策略[J];半导体技术;2003年09期
10 王振宇,成立,高平,史宜巧,祝俊;先进的芯片尺寸封装(CSP)技术及其发展前景[J];半导体技术;2003年12期
中国博士学位论文全文数据库 前2条
1 徐磊;基于SOC架构的可测性设计方法学研究[D];清华大学;2002年
2 韩银和;数字电路测试压缩方法研究[D];中国科学院研究生院(计算技术研究所);2005年
中国硕士学位论文全文数据库 前6条
1 吴俊华;组合电路的形式验证方法研究[D];哈尔滨工程大学;2004年
2 吴向宇;SoC功能验证技术研究[D];国防科学技术大学;2006年
3 陈凯;基于嵌入式核测试复用的数字SOC测试技术研究[D];桂林电子科技大学;2006年
4 高树静;嵌入式微处理器可测性设计研究与实现[D];青岛大学;2003年
5 张必超;存储器测试技术及其在质量检验中的应用研究[D];四川大学;2005年
6 姚俊;基于BIST的嵌入式存储器可测性设计算法研究[D];哈尔滨工程大学;2007年
【二级引证文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 成立,李春明,王振宇,高平;IC产业链中的新技术应用与产业发展对策[J];半导体技术;2004年06期
2 成立,李春明,王振宇,祝俊;纳米CMOS器件中超浅结离子掺杂新技术[J];半导体技术;2004年09期
3 成立,王振宇,景亮;SOC设计:IC产业链设计史上的重大革命[J];半导体技术;2004年12期
4 成立,王振宇,武小红,范木宏,祝俊,赵倩;深亚微米/纳米CMOS器件离子蚀刻新技术[J];半导体技术;2005年01期
5 成立,王振宇,祝俊,赵倩,侍寿永,朱漪云;圆片级芯片尺寸封装技术及其应用综述[J];半导体技术;2005年02期
6 范木宏,成立,刘合祥;电荷泵锁相环的全数字DFT测试法[J];半导体技术;2005年04期
7 成立,赵倩,王振宇,祝俊,范木宏,刘合祥;限散射角电子束光刻技术及其应用前景[J];半导体技术;2005年06期
8 成立,王振宇,朱漪云,刘合祥;制备纳米级ULSI的极紫外光刻技术[J];半导体技术;2005年09期
9 成立,李春明,高平,王振宇,史宜巧;三种改进结构型BiCMOS逻辑单元的研究[J];固体电子学研究与进展;2004年04期
10 成立;王振宇;张兵;武小红;;三种低压高速低耗BiCMOS三态逻辑门[J];固体电子学研究与进展;2006年02期
中国重要会议论文全文数据库 前1条
1 刘智;;A High-speed serial transmitter design[A];第五届中国通信集成电路技术与应用研讨会会议文集[C];2007年
中国博士学位论文全文数据库 前1条
1 颜莉萍;弹性分组环关键技术研究及其MAC专用集成电路设计[D];清华大学;2007年
中国硕士学位论文全文数据库 前10条
1 李蕾;应用于NoC的小规模PRDT(2,1)布线及路由问题的研究[D];河北工业大学;2006年
2 陈军;MPEG-SOC中CPU子系统的设计及软硬件协同验证的研究[D];浙江大学;2006年
3 刘敏侠;BiCMOS电流型脉宽调制器的研究与设计[D];西安理工大学;2006年
4 胡晓慧;动态CMOS触发器及动态BiCMOS电路设计[D];浙江大学;2006年
5 朱瑜;一种大规模集成电路测试方法[D];南京理工大学;2006年
6 姚俊;基于BIST的嵌入式存储器可测性设计算法研究[D];哈尔滨工程大学;2007年
7 徐东;装备综合保障关键技术研究[D];国防科学技术大学;2006年
8 倪军;数字电路板边界扫描故障诊断与无误判抗混淆优化算法研究[D];江苏大学;2007年
9 谢明恩;可测试性设计技术及应用研究[D];南京航空航天大学;2007年
10 肖莹莹;基于March C-算法的SRAM测试设计与实现[D];大连海事大学;2007年
【二级参考文献】
中国期刊全文数据库 前2条
1 陆思安,史峥,严晓浪;面向系统芯片的可测性设计[J];微电子学;2001年06期
2 刘建都;嵌入式系统的在线自测试技术[J];微电子技术;2000年06期
【相似文献】
中国期刊全文数据库 前10条
1 崔伟;丁建忠;;边界扫描超越基本PCB测试[J];仪器仪表用户;2011年03期
2 张惠国;徐彦峰;曹正州;于大鑫;于宗光;;FPGA逻辑资源重配置测试技术研究[J];固体电子学研究与进展;2011年03期
3 谈恩民;詹琰;;结合预确定距离的BIST测试矢量优化[J];微电子学与计算机;2011年09期
4 欧阳一鸣;牛丽义;梁华国;;片上网络通信架构的BIST测试方法[J];电信科学;2011年08期
5 许川佩;胡旭;;一种片上网络路由测试方法研究[J];微电子学与计算机;2011年07期
6 吴孝银;;基于减少确定位的动态LFSR重新播种方法[J];宿州学院学报;2011年05期
7 ;[J];;年期
8 ;[J];;年期
9 ;[J];;年期
10 ;[J];;年期
中国重要会议论文全文数据库 前10条
1 王伟征;邝继顺;尤志强;刘鹏;;一种基于扫描子链轮流扫描捕获的低费用BIST方法[A];第六届中国测试学术会议论文集[C];2010年
2 崔伟;冯建华;;一种基于Loopback结构的RFIC内建自测试方法[A];第十四届全国容错计算学术会议(CFTC'2011)论文集[C];2011年
3 姜岩峰;鞠家欣;张晓波;杨兵;于韶光;;基于模拟集成电路BIST的ARMA模块设计[A];第十九届测控、计量、仪器仪表学术年会(MCMI'2009)论文集[C];2009年
4 李鑫;梁华国;陈田;王伟;易茂祥;;基于折叠计数器的低功耗确定BIST方案[A];2011中国仪器仪表与测控技术大会论文集[C];2011年
5 汪滢;辛晓宁;王宏;马纪虎;;BIST技术及其在Memory中的应用[A];首届信息获取与处理学术会议论文集[C];2003年
6 马琪;裘燕锋;;片上SRAM内建自测试的实现方法[A];第六届中国测试学术会议论文集[C];2010年
7 杨婷;邝继顺;;基于测试片段间转移的低功耗BIST实现[A];第四届中国测试学术会议论文集[C];2006年
8 朱彦卿;何怡刚;阳辉;刘美容;王玺;;一种高速ADC静态参数的内建自测试结构[A];第四届中国测试学术会议论文集[C];2006年
9 杨懿;周瑞华;黄维康;;变长序列重复播种内建自测试方案探讨[A];第三届中国测试学术会议论文集[C];2004年
10 谈恩民;刘建军;钱文武;施文康;;基于SoC的BIST静态功耗优化设计[A];2007'中国仪器仪表与测控技术交流大会论文集(二)[C];2007年
中国重要报纸全文数据库 前2条
1 中科院计算技术研究所 张 伸;在设计中引入测试理念[N];计算机世界;2004年
2 何俊山;IC自动测试系统关键技术[N];中国电子报;2000年
中国博士学位论文全文数据库 前10条
1 周彬;低测试成本的确定性内建自测试(BIST)的研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
2 谈恩民;数字电路BIST设计中的优化技术[D];上海交通大学;2007年
3 朱敏;电子系统内建自测试技术研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
4 孙秀斌;混合信号电路故障诊断的内建自测试(BIST)方法研究[D];电子科技大学;2004年
5 王伟征;数字电路低费用低功耗测试技术研究[D];湖南大学;2011年
6 徐磊;基于SOC架构的可测性设计方法学研究[D];清华大学;2002年
7 杨德才;算术运算电路的通路时延故障测试[D];电子科技大学;2008年
8 曹贝;SoC低功耗测试技术和温度意识测试规划研究[D];哈尔滨工业大学;2010年
9 李杰;低功耗内建自测试(BIST)设计技术的研究[D];东南大学;2004年
10 李锐;低功耗内建自测试设计方法研究[D];东南大学;2005年
中国硕士学位论文全文数据库 前10条
1 詹琰;加权内建自测试(BIST)设计中的多目标优化技术研究[D];桂林电子科技大学;2011年
2 刘洁;基于嵌入式DLL的BIST设计[D];西安电子科技大学;2010年
3 高晶晶;一种针对3D芯片的BIST设计方法[D];合肥工业大学;2012年
4 程旺燕;基于等确定位切分的SoC内建自测试方法研究[D];合肥工业大学;2010年
5 刘静;边界扫描测试算法和BIST技术的研究与实现[D];南京航空航天大学;2010年
6 段军棋;基于边界扫描的测试算法和BIST设计技术研究[D];电子科技大学;2004年
7 胡少飞;基于MT-6000系统级模拟与验证的技术研究[D];长沙理工大学;2012年
8 阳习书;基于NiosⅡ内核的板级BIST测控技术研究[D];电子科技大学;2011年
9 徐越;应用于混合信号集成电路BIST的模拟信号发生器[D];西安电子科技大学;2011年
10 汪昱;基于非确定门延时的瞬态电流测试生成算法研究及BIST测试产生器设计[D];湖南大学;2004年
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