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《半导体光电》 2008年06期
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高功率半导体激光器的m值与器件质量的相关性

梁庆成  石家纬  曹军胜  刘奎学  郭树旭  李红岩  胡贵军  
【摘要】:用电导数技术测量了高功率半导体激光器及阵列激光器的m值,讨论了影响m值大小的因素及与器件质量的相关性。结果表明,m值是器件质量和可靠性的重要标志之一,对于同种器件,质量好的器件的m值一定在某范围之内。对取值范围进行了讨论。

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【参考文献】
中国期刊全文数据库 前1条
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【共引文献】
中国期刊全文数据库 前2条
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2 石英学,李靖,郭树旭,张素梅,王雪丹,石家纬;半导体高功率量子阱激光器退火后的电噪声[J];吉林大学学报(理学版);2004年04期
中国博士学位论文全文数据库 前2条
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中国硕士学位论文全文数据库 前10条
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