| | | | | Mie理论在静态光散射粒度测量的应用下限研究 | | | 汲云涛;任中京 | | | 测量下限是光散射颗粒测试技术的关键问题。本文通过理论分析、比较归一化散射光强的分布图和构造方差函数F(d)对颗粒散射光的光强分布进行了定性和定量的讨论,对Mie散射向Rayleigh散射趋近的情况进行了分析,讨论了散射光光强大小的分布,分析了测量不同粒径的颗粒的可行性,最终得到在入射光源是波长为0.6328μm的He-Ne激光器的情况下,当粒径d取200nm以上时,不同粒径颗粒的M ie散射光强分布有较大差别,适合用静态光散射的方法来判断颗粒粒径。
【作者单位】：中国地震局地质研究所 北京100029(汲云涛);济南大学颗粒测试研究所 山东济南250022(任中京)
【关键词】：颗粒;粒度;光散射;Mie理论
【分类号】：O436.2
【DOI】：cnki:ISSN:1008-5548.0.2005-06-005
【正文快照】：
静态光散射粒度分析,主要是依据不同大小颗粒的散射能量的空间分布(散射谱)的差异确定颗粒大小。如果散射谱的空间分布差异消失,则静态光散射将不能测量颗粒粒度,应代之以动态光散射或其他分析技术。M ie散射理论是颗粒光散射的基础理论,因此颗粒测量下限的确定,实质上决定于M ie散射理论能谱的研究。本文以M ie理论为依据,通过理论分析和计算机模拟,确定测量下限的参考范围。1 M ie散射基本公式M ie理论是对处于均匀介质中的各向均匀同性的单个介质球在单色平行光照射下的M axwell方程边界条件的严格数学解。入射光为完全偏振光时(兹为… | | |  推荐 CAJ下载  PDF下载 | | | CAJViewer7.0阅读器支持所有CNKI文件格式，AdobeReader仅支持PDF格式 | | | | Study on Application of Lower Limit by Mie Theory in Static Light Scattering Granularity Measurement | | | JI Yun-tao 1;REN Zhong-jing2(1.Institute of Geology;China Earthquake Administration;Beijing 100029;2.Particle Measurement Research Center;Jinan University;250022 Jinan;China) | | | The bottom boundary is the key point of the light scattering technique.The distribution of the intensity of light scattering was discussed qualitatively and quantitatively by theory analysis,comparison of normalized scattering intensity distribution maps and structuring a variance function F(d),the relationship between the theory of Mie scattering and Rayleigh scattering was investigated.The feasibility of measuring particles of different size was analysed and the applicable scope of static light scattering principles were produced,if the particle size d was above 200 nm,there was more difference between the Mie scattering intensity distributions of pellet with different particle sizes,in the situation that incident light wave length was 0.6328 μm,it was appropriate to judge the particle size with the static light scattering method.
【Keyword】：particle;particle size;light scattering;Mie theory |
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