| | | | | 双参数指数分布异常数据的检验 | | | 李云飞,黄继伟,朱宏 | | | 针对双参数指数分布的异常大数据,给出了一种新的检验方法。寻找到总体参数的具有较好稳健性的估计量,并在此基础上构造出检验统计量,求出了该检验统计量精确的概率密度函数和大样本情形下的近似分布,得到了检验临界值简洁的近似表达式。
【作者单位】：电子科技大学应用数学学院 成都610054
(李云飞;黄继伟);电子科技大学应用数学学院 成都610054(朱宏)
【关键词】：双参数指数分布;异常数据;次序统计量;分位数;检验统计量
【分类号】：O212
【DOI】：cnki:ISSN:1001-0548.0.2005-01-00X
【正文快照】：
双参数指数分布在可靠性理论中有着非常广泛的应用,它可以用来描述元件或系统的寿命。在做这些寿命试验时会得到大量的观测数据,但是由于受过失性误差的影响会产生异常数据,这些异常数据会对试验结果造成不良影响。因此,如何检测这些异常数据是一个重要的问题。 假设 X1,X2,L,X | | |  推荐 CAJ下载  PDF下载 | | | CAJViewer7.0阅读器支持所有CNKI文件格式，AdobeReader仅支持PDF格式 | | | | Detection of Outliers from the Two-Parameter Exponential Distribution | | | LI Yun-fei;HUANG Ji-wei;ZHU Hong (School of Applied Mathematics;UEST of China Chengdu 610054) | | | In this paper, a method of examination for the upper outliers from the two–parameter exponential distribution is discussed. A new test statistic is given. We derive the accurate density function and the approximate distribution of this test statistic.
【Keyword】：two-parameter exponential distribution;outlier;order statistic;fractile;test statistic |
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