《核技术》2004年04期 加入收藏    获取最新 
 水底沉积物原位X射线荧光测量中水分的影响与校正
 葛良全,赖万昌,林玲,林延畅
   论述了水底(海底、湖底或水系)沉积物中含水量的变化对原位X射线荧光测量的影响,以源初级X射线在沉积物上的相干散射线和非相干散射射线强度为内标建立的散射校正方程,可有效地克服沉积物中含水量变化对目标元素特征X射线的干扰。实验结果表明,对铜矿远景区土壤样品,当样品中含水量变化为20%时,目标元素(Fe:10.9%,Cu:300mg/kg,Zn:124mg/kg)特征X射线强度的变化小于5%。
【作者单位】:成都理工学院 成都610059 (葛良全;赖万昌;林玲);成都理工学院 成都610059(林延畅)
【关键词】:海底沉积物;X射线荧光分析;水分;散射校正
【基金】:国家“863”计划“海洋领域”青年基金(820-Q-03);国际原子能机构协作项目(11305/Regular Budget Fund)的资助
【分类号】:P631.6
【DOI】:cnki:ISSN:0253-3219.0.2004-04-007
【正文快照】:
  在常规的室内X射线荧光分析和地面现场X射线荧光测量中,被测对象是干燥的粉末样品,或者是含有一定水分(一般小于10%)的土壤或岩石,由于其水分较少或变化不大,所以样品中水对X 射线荧光分析结果的影响一般可忽略,或者采用目估法简单地将样品分类处理[1]。当以水底沉积物(如海底沉积物、湖底沉积物和水系沉积物)作为X 射线荧光测量对象时,在几米、几十米、甚至几百米的静水压力下沉积物中的含水是呈饱和或者超饱和状态赋存的。与地面X 射线荧光测量相比较,水底沉积物中单位体积内的含水量明显增大,而且沉积物含水量与沉积物上覆水层的深度,…
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 Influence of water content in sediments on in-situ EDXRF measurement and its correction
 GE Liangquan LAI Wanchang LING Ling LIN Yanchang (Chengdu University of Technology;Chengdu 610059)
  This paper describes the influence of water content in natural sediments on in-situ EDXRF measurement. Based on the coherent and incoherent scattered X-ray intensities of the primary X-ray emitted from the excited source on sediments, a new correction method has been proposed, which can effectively overcome the influence of water content on the characteristic X-rays of target elements. Tests on powder soil samples from a copper mineral prospecting area show that the intensity changes of the characteristic X-rays from iron (10.9%), copper (300mg/kg) and zinc (124mg/kg) are less than 5% when the changes of water content in the sample are about 20%.
【Keyword】:Seabed sediment, X-ray fluorescence analysis, Water content, Scattering correction
 【引证文献】 共(2)篇 
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